使用手持式XRF分析儀的優勢特性
美國進口奧林巴斯合金分析儀XRF來料檢測
美國進口奧林巴斯合金分析儀XRF來料檢測
信息全面的牌號辨別：標準牌號庫包括700多種*的合號。基于工業標準的殘量“雜質”庫，簡化了牌號的匹配操作。
SmartSort可以實現非常高的檢測量：在必要時自動延長檢測輕元素的時間，還可以取消不必要的長時檢測。
微點準直器：可選購的準直器有助于用戶從背景材料中區別出材料的細小特征。
可選5百萬像素全景攝像頭：保存并歸檔被測表面的攝像記錄。
焊縫牌號庫可方便地驗證焊縫材料的化學成份和焊縫的級別。
堅固耐用
符合IP 65/64評級標準，可以抵御灰塵和雨水的侵襲
通過了從4英尺高處墜落的測試（MIL-STD 810G），適合復雜場地和生產環境
可以在 -10 °C到50 °C的溫度范圍內操作
為裝有硅漂移探測器的分析儀，提供了金屬自動擋板保護昂貴的探測器
改進創新
采用*的Axon技術，更高的X 射線計數率，更快、更精確的檢測結果，以及更低的檢出限
接近于理論極限的分辨率
無需標樣自動能量校準，分析儀自動進行能量校準，保證了*的測試穩定性
四核處理器可使用戶在極短的時間內獲得佳分析結果
高效多產
簡單直觀的用戶界面（UI）可使用戶快速瀏覽分析儀的設置和軟件功能
根據用戶的特定需求，配置用戶界面
用戶可以自行定制顯示在主屏幕上的功能快捷鍵
通過USB閃存驅動盤、Wi-Fi或藍牙完成的數據導出操作非常簡單
M 系列
我們Z強大的Vanta 分析儀具有非同一般的性能，可以完成要求Z苛刻的應用。每臺M 系列分析儀都配備有一個大區域SDD 硅漂移探測器， 用戶可選擇50KV 的銠（Rh）或鎢（W）陽極靶材的X 射線管。
主要型號有：VMR、VMW。
C 系列
C 系列Vanta 分析儀匯集了以下優質特性：超高的速度、極低的檢出限（ LOD）和寬泛的可測元素范圍，是一款價值的分析儀。每臺C 系列分析儀都配備有一個高性能SDD 硅漂移探測器，用戶可以選擇40KV 的銠(Rh) 或鎢(W) 陽極靶材的X 射線管，或者50KV 的銀(Ag) 陽極靶材的X 射線管。
主要型號有：VCR、VCW、VCA。
L 系列
L 系列Vanta 分析儀擁有較高X 射線計數率，超低電子噪聲設計，使得儀器具有優質的檢出限（LOD)，*的分析速度和準確性。每臺L 系列分析儀都配備一個高性能Si-Pin 探測器，和4W 的大功率鎢（W）陽極靶材的X 射線管。
主要型號有：VLW。
技術規格
外形尺寸 | 8.3 cm × 28.9 cm × 24.2 cm（寬× 高× 厚） |
激勵源 | 根據不同應用，陽極靶可選擇銠（Rh）、銀（Ag）和鎢（W）。M系列（Rh 和W）和C系列（Ag）: 8～ 50 KV 、C系列（Rh和 W）：8～40 KV、L系列（W）: Z大 35KV |
濾光片 | 8個濾光片，自動切換濾光片 |
探測器 | M系列：大區域SDD 硅漂移探測器 C系列：SDD硅漂移探測器 L系列：Si-Pin探測器 |
電源 | 可拆裝的14.4 V鋰離子電池或18 V電源變壓器， 100～240 VAC，50～60 Hz, Z大70 W |
顯示 | 800 × 480 (WVGA) 液晶電容式觸摸屏，可使用手指進行控制 |
環境 | 溫度：-10℃~50℃（帶可選風扇時，可連續工作） 濕度：相對濕度為10 %～90 %，無冷凝 |
墜落測試 | 通過了美軍標準810-G的1.22 米高防墜落測試 |
IP 評級 | M系列符合IP 64 評級的要求：防塵，而且可防止來自各個方向的水濺 C系列符合IP 65 評級的要求：防塵，而且可防止來自各個方向的水噴 L系列符合IP 65 評級的要求：防塵，而且可防止來自各個方向的水噴 |
壓力校正 | 內置氣壓計，用于海拔和空氣密度的自動校正 |
GPS | 嵌入式GPS/GLONASS接收器 |
操作系統 | Linux |
數據存儲 | 4GB 嵌入存儲，帶有microSD 卡插槽，可擴展存儲容量 |
USB | 兩個USB 2.0 A型主端口，用于諸如Wi-Fi、Bluetooth 和USB閃存驅動盤等配件 一個USB 2.0 袖珍B 型端口，用于連接計算機 |
WiFi | 通過可選購USB適配器，支持802.11 b/g/n（2.4 GHz） |
藍牙 | 通過可選購USB適配器，支持藍牙和藍牙低能量功能 |
瞄準攝像頭 | 全VGA CMOS攝像頭 |
全景攝像頭 | 500萬像素CMOS 攝像頭，帶自動聚焦透鏡 |
