維修美國NanoMap-PS臺階儀
【探針接觸式輪廓儀】臺階儀,全新美國進口臺階儀 性價比高
NanoMap-PS是一款專門為nm級薄膜測量研發的無需防震臺即可測量的接觸式臺階儀
AFM同款位移傳感器，超高精度
壓電陶瓷驅動掃描，無內源振動
自集成主動反饋式防震系統
真正無需額外輔助防震系統，實現高重復性納米測量
納米量級科學研究的*產品
維修瑞士TESA測高儀
TESA Hite 400/700測高儀是集TESA25年研發經驗推出的性價比的一款，它必定成為車間的。TESA Hite400/700適合于如內外長度直徑, 階梯尺寸, 高度, 深度, 和距離的測量. 配合其他附件(如測量表頭),還可進行直線度和垂直度的測量.TESA Hite400/700和被替代TESA Hite PlusD350/600 相比具有更大的測量范圍，更高的精度，電子裝置具有IP65的防護等級可以防止液體和灰塵的侵入，機器本身內置氣浮，使得機器移動更加方便快捷，避免測量基準的磨損，延長測高儀的使用壽命。控制面板固定在機身上。表面鍍鎳的鑄鐵底座同時鑄有三個支承,保證了儀器的高度穩定性. 外罩內的立柱配有導軌系統并和底座垂直. 測頭在此導軌上移動并由TESA技術的位移傳感器記錄其位置. · 技術指標
維修瑞士TESA測高儀
型號規格 |
| TESA Hite |
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400 | 700 |
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測量范圍 | mm | 415 | 715 |
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應用范圍配標準附件 配訂貨號的測頭座 配訂貨號S的測頭座 | mm | 570 625 795 | 870 925 1095 |
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允許誤差 | (2.5+4L)μm,(L單位為米/L in m) |
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重復性(帶標準附件) | ±2s≤2μm |
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運動速度 | 500 mm/s |
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測量力(聲音信號) | 1.5±0.5N |
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電源 | 6V 可充電電池 |
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一次充電工作時間 | 60h |
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微調裝置 | √ | ||||
測頭鎖定 | √ | ||||
機械垂直度(μm) | <10 | <15 | |||
主機重量(kg) | 27 | 32 | |||
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2) 主要測量功能
描述 |
在同一個方向上進行長度測量(測量模式1), 無須考慮測頭直徑 |
在上下方向上進行長度測量(測量模式2), 要考慮測頭直徑 |
<連續性>顯示測量(測量模式3) |
在測量模式2狀態下顯示出上兩次觸測值的差值 |
在測量模式1和模式2狀態下顯示出上兩次顯示值的差值 |
在測量模式2狀態下, 通過兩次觸測來建立基準點,以獲得各種長度和位置坐標 |
在測量模式2狀態下, 通過一次觸測來建立基準點,以獲得各種長度測量 |
在測量模式1, 2和3狀態下建立新的基準點 |
在測量模式1, 2和3狀態下, 予置數輸入 |
自動將測量數據傳輸給外設 |
確認并記錄數據在儀器存儲器中 |
增位測量, 表示找到點(測內外直徑時使用) |
減位測量, 表示找到點(測內外直徑時使用) |
每按一下,即將讀數傳給外設 |
公英制單位轉換 |
取消上一次功能或測量選擇 |
儀器開關鍵, 當面板后部的設置鍵3置為ON時,儀器在停止使用達16分鐘時會自動 維修美國NanoMap-PS臺階儀 維修美國NanoMap-PS臺階儀 【探針接觸式輪廓儀】臺階儀,全新美國進口臺階儀 性價比高 NanoMap-PS是一款專門為nm級薄膜測量研發的無需防震臺即可測量的接觸式臺階儀 AFM同款位移傳感器，超高精度 壓電陶瓷驅動掃描，無內源振動 自集成主動反饋式防震系統 真正無需額外輔助防震系統，實現高重復性納米測量 納米量級科學研究的*產品 NanoMap-PS臺階儀可以應用在半導體，光伏/太陽能，光電子，化合物半導體，OLED，生物醫藥，PCB封裝等領域的薄膜厚度，臺階高度，粗糙度（Ra,Rq,Rmax...），劃痕深度，磨損深度，薄膜應力（曲定量率半徑法）等定量測量方面。其高精度，高重復性，自動探索樣品表面，自動測量深受廣大客戶歡迎。 測量表面可以覆蓋多種材料表面：金屬材料、陶瓷材料、生物材料、聚合物材料等等，對于植物表面，生物材料，聚合物表面，光刻膠等“柔軟表面”也可測量無須擔心劃傷或破壞。設備傳感器精度高，穩定性好。熱噪聲是同類產品的。垂直分辨率可達0.1nm。可測表面，包括透明、金屬材料，半透明、高漫反射，低反射率、拋光、粗糙材料，金屬、玻璃、木頭、合成材料、光學材料、塑料、涂層、涂料、漆、紙、皮膚、頭發、牙齒等；
垂直分辨率 0.1nm 垂直量程 1000um 平臺范圍 直徑150毫米（可選200毫米或更大） 金剛石探針 0.5um到25um可選 |
