2、傳播介質的影響
（1）溫度
（2）壓力
（3）傳播介質的腐蝕性
（4）傳播介質中是否含有蒸汽或粉塵等
（5）環境中揮發物質的結晶問題或粉塵的粘附問題。
解決好上述問題，那么我們就保證了，電磁波或超聲波到達被測料面時，沒有大的衰減。通過被測料面的反射，得到一個回波信號。回波信號的強弱和被測料面以下狀態相關。
GDRD59-PJGPIE2BAAMA脈沖型雷達物位計(26G)
特 征： 多種天線，抗結露、結晶、掛料、粉塵，波束集中。
應 用： 應用于量程較短的固體料位測量。
最大量程： 15m
測量精度： ±10mm
天線材料： (T型)不銹鋼316L喇叭/PTFE振子
(V型)不銹鋼316L/PTFE振子
(W型)不銹鋼316L/PTFE振子
天線結構：
(V型)錐面振子，防凝結物
(W型)拋物面天線，4度開角
過程溫度： (T型)(-40～200)°C
(V型)(-40～200)°C
(W型)(-40～200)°C
過程壓力： (T型)(-0.1～4)MPa
(V型)(-0.1～0.3)MPa
(W型)(-0.1～4)MPa
頻率范圍： 26GHz
信號輸出： (4～20)mA/HART
電 源： 四線制
詳細介紹：
GDRD59
許可證
P 標準型（非防爆）
I 本安型（Exia IIC T6）
G 本安型+隔爆型（Exd [ia]ia IIC T6）
天線型式/材料
K (S型)喇叭天線Φ98mm/PP/帶PTFE罩
L (S型)喇叭天線Φ98mm(加長）/PP/PTFE罩
X 特殊定制
過程連接/材料
GB (G)螺紋G1?A/PP
GX 特殊定制
法蘭選配/材料
HA (L)DN100法蘭/PP
HD (N)DN100萬向節法蘭/PP
GX 特殊定制
密封/過程溫度
2 Viton(-60～80)℃
電子組件
B (4～20)mA/HART兩線制
C (4～20)mA/(22.8～26.4)V DC /HART兩線/四線制
D (198～242)V AC/HART四線制
外殼/防護等級
A 鋁/IP67
B 塑料/IP66
D 鋁兩腔/IP67
電纜進線
M M20x1.5
N ?NPT
現場顯示/編程
A 帶
X 不帶
注: 本安型（Exia IIC T6）只限用“B”電子組件及“A”型外殼；本安+隔爆型（Exd [ia]ia IIC T6）
只限用“D”電子組件及“D”型外殼; 標配法蘭大小參照GB/T9119-2000 PN1.6MPa尺寸,厚度為15.
現代工業物位測量中，超聲波物位計和雷達物位計得到廣泛應用，作為兩大類主流儀表，發展到今天，已經出現30多種型號，以滿足不同種工況的需要。所以選擇一款正確的儀表至關重要。
那么在儀表選型的時候，我們根據什么來判斷呢？我們的目的是得到在被測料面的一個反射波；同時又不存在其他干擾波或干擾波很小。能對這個目的產生影響的存在兩大方面。其一是：電磁波或超聲波傳輸的途徑中，環境所造成的影響。其二：被測料面的狀態對反射信號的影響。
再稍微細分一下這兩大方面的影響。
環境所造成影響的因素有：
1、障礙物的影響。
如果儀表發射的超聲波或電磁波接觸到障礙物，那么就會得到一個干擾波形。如果無法選擇其他理想的安裝位置時，選擇波束角小的儀表或者采用導波管或旁通管的安裝形式是可以解決問題的。
2、傳播介質的影響
（1）溫度
（2）壓力
（3）傳播介質的腐蝕性
（4）傳播介質中是否含有蒸汽或粉塵等
（5）環境中揮發物質的結晶問題或粉塵的粘附問題。
解決好上述問題，那么我們就保證了，電磁波或超聲波到達被測料面時，沒有大的衰減。通過被測料面的反射，得到一個回波信號。回波信號的強弱和被測料面以下狀態相關。
1、被測物質的介電常數或硬度
介電常數影響了電磁波反射的強弱。介電常數越大，反射回波則越強。而硬度則是對聲波的反射而言的。硬度越大，聲波的反射越強。
2、被測料面的堆角
3、被測料面的穩定性
4、被測物的顆粒度和疏松度
5、被測物的濕潤度
關注以上問題，就是為了能夠選擇一款儀表，在被測料面反射時，能得到一個可以識別的回波信號。隨著波的傳輸、反射和再傳輸這樣一個流程的結束，其間所遇到的問題都考慮周全，那么儀表的選型也就完成了。
