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深圳市中圖儀器股份有限公司

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半導體專業檢測設備: 晶圓形貌測量系統

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晶圓表面粗糙度測量儀器參考價： ￥3000000

參考價： 3000000 型號：WD4000
中圖儀器WD4000晶圓表面粗糙度測量儀器兼容不同材質不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數據更準確。它采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測量雙...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓粗糙度測量儀晶圓表面測量儀無圖晶圓幾何量測系統晶圓形貌測量儀器半導體晶圓測量儀

2025/3/10 10:37:301300
半導體晶圓量測設備參考價： ￥3000000

參考價： 3000000 型號：WD4000
WD4000半導體晶圓量測設備兼容不同材質不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數據更準確。自動測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

無圖晶圓幾何量測系統半導體量測設備晶圓檢測設備晶圓形貌測量設備晶圓測量設備

2025/3/10 10:12:231449
晶圓幾何形貌測量及參數自動檢測機參考價： ￥3000000

參考價： 3000000 型號：WD4000系列
WD4000晶圓幾何形貌測量及參數自動檢測機采用高精度光譜共焦傳感技術、光干涉雙向掃描技術，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，實現晶圓厚度、TTV、...
型號： WD4000系列品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓幾何測量機晶圓形貌測量機無圖晶圓幾何量測系統晶圓形貌測量系統晶圓形貌檢測機

2025/3/10 9:49:541434
無圖晶圓厚度翹曲度測量設備參考價： ￥3000000

參考價： 3000000 型號：WD4000
WD4000無圖晶圓厚度翹曲度測量設備兼容不同材質不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數據更準確。它可實現砷化鎵、氮化鎵、磷化鎵、鍺、磷化銦、鈮酸鋰...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

無圖晶圓幾何量測設備晶圓厚度測量設備晶圓翹曲度測量設備晶圓測量設備晶圓形貌測量設備

2025/3/10 9:09:041300
晶圓厚度翹曲度測量系統參考價： ￥3000000

參考價： 3000000 型號：WD4000
WD4000晶圓厚度翹曲度測量系統通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，在高效測量測同時有效防止晶圓產生劃痕缺陷。它采用高精度光譜共焦傳感技術、光干涉雙向掃...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓測量系統晶圓厚度測量系統晶圓翹曲度測量系統無圖晶圓幾何量測系統晶圓形貌測量系統

2025/3/10 8:34:04976
晶圓多維度特征檢測設備參考價： ￥3000000

參考價： 3000000 型號：WD4000
WD4000晶圓多維度特征檢測設備系統自動測量 Wafer 厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。可實現砷化鎵、氮化鎵、磷化鎵、鍺、磷化銦、鈮酸鋰、藍...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓檢測設備無圖晶圓幾何檢測設備晶圓量測設備晶圓形貌測量設備晶圓幾何形貌檢測設備

2025/3/10 8:04:281038
半導體晶圓厚度高精度測量系統參考價： ￥3000000

參考價： 3000000 型號：WD4000
WD4000系列半導體晶圓厚度高精度測量系統通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓測量系統晶圓厚度測量系統無圖晶圓幾何量測系統晶圓形貌測量系統晶圓幾何量測系統

2025/3/10 7:31:271041
晶圓厚度表面粗糙度微納三維形貌量測系統參考價：面議

參考價：面議型號：WD4000
WD4000晶圓厚度表面粗糙度微納三維形貌量測系統采用高精度光譜共焦傳感技術、光干涉雙向掃描技術，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，實現晶圓厚度、T...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓厚度量測系統晶圓粗糙度量測系統晶圓形貌量測系統無圖晶圓幾何量測系統半導體晶圓檢測機

2025/3/9 20:59:24999
半導體晶圓粗糙度翹曲度檢測設備參考價：面議

參考價：面議型號：WD4000
WD4000半導體晶圓粗糙度翹曲度檢測設備采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測量雙向掃描技術，完成非接觸式掃描并建立表面3D層析圖像，實現Wafer厚度、翹...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓檢測設備半導體晶圓檢測晶圓粗糙度檢測設備晶圓翹曲度檢測設備晶圓幾何量測系統

2025/3/9 20:15:361156
國產半導體晶圓表面形貌測量系統參考價：面議

參考價：面議型號：WD4000
WD4000國產半導體晶圓表面形貌測量系統兼容不同材質不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數據更準確。它采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測量雙...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

半導體晶圓測量系統晶圓形貌測量系統無圖晶圓幾何量測系統晶圓測量系統晶圓檢測設備

2025/3/9 19:29:441151
晶圓厚度翹曲度粗糙度檢測設備參考價：面議

參考價：面議型號：WD4000
WD4000晶圓厚度翹曲度粗糙度檢測設備采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測量雙向掃描技術，完成非接觸式掃描并建立表面3D層析圖像，實現Wafer厚度、翹曲...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓厚度檢測設備晶圓翹曲度檢測設備晶圓粗糙度檢測設備晶圓檢測設備無圖晶圓幾何量測系統

2025/3/9 18:46:241258
半導體晶圓Warp翹曲度量測設備參考價：面議

參考價：面議型號：WD4000
WD4000半導體晶圓Warp翹曲度量測設備通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

半導體晶圓量測設備晶圓翹曲度量測設備晶圓Warp量測設備無圖晶圓幾何量測系統晶圓形貌量測系統

2025/3/9 18:25:091140
晶圓幾何形貌檢測機參考價：面議

參考價：面議型號：WD4000
WD4000晶圓幾何形貌檢測機可測各類包括從光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面，從納米到微米級別工件的厚度、粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。自動測量...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

半導體晶圓檢測晶圓檢測機晶圓檢測設備無圖晶圓幾何量測系統晶圓幾何形貌測量機

2025/3/9 17:53:551191
晶圓厚度Warp檢測設備參考價：面議

參考價：面議型號：WD4000系列
WD4000晶圓厚度Warp檢測設備自動測量 Wafer 厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。使用光譜共焦對射技術測量晶圓 Thickness、TT...
型號： WD4000系列品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

半導體晶圓檢測設備晶圓厚度檢測設備晶圓Warp檢測設備無圖晶圓幾何量測設備晶圓形貌檢測設備

2025/3/9 17:15:181285
WD4000無圖晶圓形貌檢測設備參考價：面議

參考價：面議型號：WD4000系列
WD4000無圖晶圓形貌檢測設備兼容不同材質不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數據更準確。可實現砷化鎵、氮化鎵、磷化鎵、鍺、磷化銦、鈮酸鋰、藍寶石...
型號： WD4000系列品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

半導體晶圓檢測晶圓形貌檢測設備廠家晶圓檢測儀晶圓外觀檢測設備無圖晶圓幾何量測系統

2025/3/9 16:42:48872
晶圓幾何量測機參考價：面議

參考價：面議型號：WD4000
WD4000晶圓幾何量測機通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測同時有效防止晶圓產...
型號： WD4000 品牌：其他品牌所在地：深圳市 對比

無圖晶圓幾何量測系統晶圓幾何量測設備晶圓幾何形貌測量機晶圓檢測設備半導體晶圓量測機

2025/3/9 16:08:43898
無圖晶圓三維形貌測量儀參考價：面議

參考價：面議型號：WD4000
中圖儀器WD4000無圖晶圓三維形貌測量儀可實現砷化鎵、氮化鎵、磷化鎵、鍺、磷化銦、鈮酸鋰、藍寶石、硅、碳化硅、玻璃不同材質晶圓的量測。它通過非接觸測量，將晶圓...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

無圖晶圓幾何量測系統晶圓三維形貌測量儀晶圓形貌測量設備晶圓檢測設備無圖晶圓形貌測量儀

2025/3/9 14:59:001045
半導體晶圓形貌檢測設備參考價：面議

參考價：面議型號：WD4000
中圖儀器WD4000半導體晶圓形貌檢測設備采用高精度光譜共焦傳感技術、光干涉雙向掃描技術，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，通過非接觸測量，將晶圓的...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

無圖晶圓幾何量測系統晶圓幾何量測設備晶圓檢測設備晶圓形貌測量設備半導體檢測設備

2025/3/9 14:23:081190
晶圓翹曲度測試設備參考價：面議

參考價：面議型號：WD4000
WD4000晶圓翹曲度測試設備兼容不同材質不同粗糙度、可測量大翹曲wafer、測量晶圓雙面數據更準確。它采用白光光譜共焦多傳感器和白光干涉顯微測量雙向掃描技術，...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓測試設備晶圓翹曲度測試設備翹曲度檢測設備晶圓翹曲度測量設備晶圓幾何量測設備

2025/3/9 13:18:591236
半導體晶圓幾何量測設備參考價：面議

參考價：面議型號：WD4000
中圖儀器WD4000半導體晶圓幾何量測設備可實現砷化鎵、氮化鎵、磷化鎵、鍺、磷化銦、鈮酸鋰、藍寶石、硅、碳化硅、玻璃不同材質晶圓的量測。通過非接觸測量，將晶圓的...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

無圖晶圓幾何量測系統晶圓幾何量測設備半導體晶圓量測設備晶圓幾何形貌量測設備晶圓形貌測量設備

2025/3/9 12:39:57914
晶圓形貌測量儀器參考價：面議

參考價：面議型號：WD4000
中圖儀器WD4000晶圓形貌測量儀器通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件穩定計算晶圓厚度，TTV，BOW、WARP、在高效測量測同時有效...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

無圖晶圓幾何量測系統晶圓幾何形貌量測系統晶圓形貌測量設備半導體晶圓檢測晶圓形貌檢測

2025/3/9 12:14:521108
晶圓表面形貌測量系統參考價：面議

參考價：面議型號：WD4000
WD4000系列晶圓表面形貌測量系統采用高精度光譜共焦傳感技術、光干涉雙向掃描技術，完成非接觸式掃描并建立3D Mapping圖，實現晶圓厚度、TTV、LTV、...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

無圖晶圓幾何量測系統晶圓形貌測量設備半導體晶圓測量設備晶圓形貌測量設備晶圓表面形貌測量系統

2025/3/9 11:28:501414
晶圓三維形貌量測系統參考價：面議

參考價：面議型號：WD4000
WD4000晶圓三維形貌量測系統可廣泛應用于襯底制造、晶圓制造、及封裝工藝檢測、3C 電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、顯示面板、MEMS 器...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓三維形貌測量系統晶圓幾何量測系統無圖晶圓形貌測量系統半導體晶圓測量系統晶圓形貌測量設備

2025/3/9 10:50:501575
半導體晶圓厚度測量系統參考價：面議

參考價：面議型號：WD4000
WD4000半導體晶圓厚度測量系統自動測量Wafer厚度、表面粗糙度、三維形貌、單層膜厚、多層膜厚。通過非接觸測量，將晶圓的三維形貌進行重建，強大的測量分析軟件...
型號： WD4000 品牌：中圖儀器所在地：深圳市 對比

晶圓厚度測量系統半導體測量系統半導體晶圓測量系統無圖晶圓幾何量測系統半導體測量設備

2025/3/9 10:16:521437

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