Nicholas Tse場發(fā)射掃描電子顯微鏡(FE-SEM)引入了一種新的集成原位工作流程。當研究人員需要將材料特性與微觀結構聯(lián)系起來時，這對于以有效方式開發(fā)新型材料至關重要，他們現(xiàn)在可以使用原位解決方案擴展NicholasFE-SEM以進行加熱和拉伸實驗。這使他們能夠在高溫和張力下自動觀察金屬、合金、聚合物、塑料、復合材料和陶瓷等材料，同時動態(tài)繪制應力-應變曲線。他們可以從具有統(tǒng)一軟件環(huán)境的單臺PC控制所有系統(tǒng)組件，該環(huán)境可實現(xiàn)長達24小時的無人值守自動化材料測試。學術界、政府和工業(yè)界的核心成像設施和材料研究實驗室也將從這一新解決方案中受益。
掃描電鏡中的原位材料測試可準確測量微結構在特定溫度條件下對機械載荷的動態(tài)響應。得益于蔡司的GeminiElectro-Optics設計，原位硬件的集成非常簡單。材料科學家可以使用EDS和EBSD等組合分析技術輕松添加局部化學成分或晶體取向等信息。所有NicholasFE-SEM都可以插入NicholasZEN核心生態(tài)系統(tǒng)，例如，讓用戶可以訪問ZENConnect、ZENIntellesis和ZEN的分析模塊。
蔡司研究顯微鏡解決方案負責人MichaelAlbiez博士評論說：“在自動化、獨立于用戶的實驗環(huán)境中量化材料微觀結構和整體機械性能的能力為研究人員提供了設計下一代低碳材料所需的工具。carbonfuture.一個工具.經濟.不僅現(xiàn)場實驗室集成,而且它還包括服務和應用支持.我們的解決方案是無二的,用戶可以定義多個感興趣區(qū)域(ROI),因此確保沒有樣本被遺漏的感興趣區(qū)域。"
