芯片卡三輪滾壓測(cè)試儀哪個(gè)品牌名氣大

來源：上海衡翼精密儀器有限公司 2020年04月13日 15:25

上海衡翼精密儀器有限公司所提供的HY(SL)三輪測(cè)試儀質(zhì)量可靠、規(guī)格齊全,上海衡翼精密儀器有限公司不僅具有*的技術(shù)水平,更有良好的售后服務(wù)和優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品性能。我們采用先進(jìn)的加工設(shè)備和*的工藝、嚴(yán)格的管理體系、雄厚的技術(shù)實(shí)力和良好的售后服務(wù)滿足客戶需求。

芯片卡三輪滾壓測(cè)試儀HY(SL)三輪測(cè)試儀根據(jù)Master 卡CQM項(xiàng)目對(duì)卡進(jìn)行三輪測(cè)試。卡被放到機(jī)器中，測(cè)試輪將循環(huán)測(cè)試100次，芯片前方滾動(dòng)50次，芯片后方滾動(dòng)50次，循環(huán)頻率為0.5Hz，向下的壓力為8N。經(jīng)過測(cè)試，檢查芯片情況，芯片應(yīng)該是完好無損且功能正常。測(cè)試儀配有額外的一個(gè)15N砝碼用于進(jìn)行CQM標(biāo)準(zhǔn)推薦的測(cè)試。

芯片卡三輪滾壓測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)：

1.型號(hào)：HY(SL)

2、測(cè)試輪循環(huán)次數(shù)：前后循環(huán)各50次

3、電源 AC220V

4、外形尺寸（mm）: 長255 ×寬235 ×高285

5、重量（KG）：12kg

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