1.本儀器是晶閘管斷態電壓臨界上升率dv/dt參數的測試設備。適用于交流固態繼電器、晶閘管、雙向可控硅以及可控硅型光電耦合器的dv/dt參數測試。
2.本測試儀采用單片機控制,對測試條件及測試數據進行運算;使得測試結果讀出。
3.單片機的數據處理功能,降低了電路分布參數對測量結果的影響。
4.由于該儀器的時間常數調整范圍大、檔位密集,對測試電壓、時間常數和測量結果進行數字顯示。
5.其檢測原理是按JB/T7626的方法。是固態繼電器、電力半導體晶閘管生產廠家和使用單位常用的檢測設備。
規格參數:
測試輸出電壓:2kV±5%
電壓測量誤差:±(讀數×2%+1)V
時間常數調整范圍:0.25-28μS
斷態電壓臨界上升率dv/dt測量范圍:0-4000V/μS
工作電源:AC 220V±10% 50Hz
工作溫度:0-40℃
功率范圍:小于150VA
晶閘管dv|dt測試儀