鉑熱電阻

摘要陶瓷鉑電阻、電阻元件、熱電阻元件是一種新型內(nèi)繞式結(jié)構(gòu)，比原有的外繞式更精確、靈敏、性能更穩(wěn)定的新式熱電阻元件。它的結(jié)構(gòu)是將鉑絲制成彈簧狀，貫穿于兩孔或四孔的精制瓷管中，將各孔中的鉑絲進行串聯(lián)于一端引線引出。該產(chǎn)品具有體積小、精度高、線性好、熱響應(yīng)時間快、長期穩(wěn)定等優(yōu)點...

摘要 防爆式熱電偶、鉑熱電阻，化工隔爆熱電偶、熱電阻產(chǎn)品防爆性能按國家頒布的“爆炸性環(huán)境用防爆電器設(shè)備”標準設(shè)計制造，熱電特性符合IEC標準，并經(jīng)國家儀器儀表防爆安全監(jiān)督站測試合格。

摘要鎧裝薄膜鉑熱電阻，WZPK-576U, 直接精確測量各種生產(chǎn)過程中的-200～500℃范圍內(nèi)液體、蒸汽和氣體介質(zhì)以及固體表面溫度。 工作原理:鎧裝熱電阻是利用物質(zhì)在溫度變化時，其電阻也隨著發(fā)生變化的特征來測量溫度的。當阻值變化時，工作儀表便顯示出電阻所對應(yīng)的溫度值...

摘要鎧裝薄膜鉑熱電阻，WZPK-575U， 應(yīng)用: 通常和顯示儀表、記錄儀表、電子計算機等配套使用。直接精確測量各種生產(chǎn)過程中的-200～500℃范圍內(nèi)液體、蒸汽和氣體介質(zhì)以及固體表面溫度。 工作原理:鎧裝熱電阻是利用物質(zhì)在溫度變化時，其電阻也隨著發(fā)生變化的特征來測量...

摘要鎧裝薄膜鉑熱電阻，WZPK-573U, 直接精確測量各種生產(chǎn)過程中的-200～500℃范圍內(nèi)液體、蒸汽和氣體介質(zhì)以及固體表面溫度。 工作原理:鎧裝熱電阻是利用物質(zhì)在溫度變化時，其電阻也隨著發(fā)生變化的特征來測量溫度的。當阻值變化時，工作儀表便顯示出電阻所對應(yīng)的溫度值。...

摘要鎧裝薄膜鉑熱電阻，WZPK-476U， 直接精確測量各種生產(chǎn)過程中的-200～500℃范圍內(nèi)液體、蒸汽和氣體介質(zhì)以及固體表面溫度。 工作原理:鎧裝熱電阻是利用物質(zhì)在溫度變化時，其電阻也隨著發(fā)生變化的特征來測量溫度的。當阻值變化時，工作儀表便顯示出電阻所對應(yīng)的溫度值。...

摘要鎧裝薄膜鉑熱電阻，WZPK-475U, 直接精確測量各種生產(chǎn)過程中的-200～500℃范圍內(nèi)液體、蒸汽和氣體介質(zhì)以及固體表面溫度。工作原理:鎧裝熱電阻是利用物質(zhì)在溫度變化時，其電阻也隨著發(fā)生變化的特征來測量溫度的。當阻值變化時，工作儀表便顯示出電阻所對應(yīng)的溫度值。 ...

摘要鎧裝薄膜鉑熱電阻，WZPK-474U, 直接精確測量各種生產(chǎn)過程中的-200～500℃范圍內(nèi)液體、蒸汽和氣體介質(zhì)以及固體表面溫度。工作原理:鎧裝熱電阻是利用物質(zhì)在溫度變化時，其電阻也隨著發(fā)生變化的特征來測量溫度的。當阻值變化時，工作儀表便顯示出電阻所對應(yīng)的溫度值。 ...

摘要鎧裝薄膜鉑熱電阻，WZPK-473U, 直接精確測量各種生產(chǎn)過程中的-200～500℃范圍內(nèi)液體、蒸汽和氣體介質(zhì)以及固體表面溫度。工作原理:鎧裝熱電阻是利用物質(zhì)在溫度變化時，其電阻也隨著發(fā)生變化的特征來測量溫度的。當阻值變化時，工作儀表便顯示出電阻所對應(yīng)的溫度值。 ...

摘要鎧裝薄膜鉑熱電阻，WZPK-376U, 直接精確測量各種生產(chǎn)過程中的-200～500℃范圍內(nèi)液體、蒸汽和氣體介質(zhì)以及固體表面溫度。工作原理:鎧裝熱電阻是利用物質(zhì)在溫度變化時，其電阻也隨著發(fā)生變化的特征來測量溫度的。當阻值變化時，工作儀表便顯示出電阻所對應(yīng)的溫度值。 ...

摘要鎧裝薄膜鉑熱電阻，WZPK-375U, 直接精確測量各種生產(chǎn)過程中的-200～500℃范圍內(nèi)液體、蒸汽和氣體介質(zhì)以及固體表面溫度。工作原理:鎧裝熱電阻是利用物質(zhì)在溫度變化時，其電阻也隨著發(fā)生變化的特征來測量溫度的。當阻值變化時，工作儀表便顯示出電阻所對應(yīng)的溫度值。 ...

摘要鎧裝薄膜鉑熱電阻，WZPK-374U, 直接精確測量各種生產(chǎn)過程中的-200～500℃范圍內(nèi)液體、蒸汽和氣體介質(zhì)以及固體表面溫度。工作原理:鎧裝熱電阻是利用物質(zhì)在溫度變化時，其電阻也隨著發(fā)生變化的特征來測量溫度的。當阻值變化時，工作儀表便顯示出電阻所對應(yīng)的溫度值。 ...

摘要鎧裝薄膜鉑熱電阻，WZPK-373U， 直接精確測量各種生產(chǎn)過程中的-200～500℃范圍內(nèi)液體、蒸汽和氣體介質(zhì)以及固體表面溫度。工作原理:鎧裝熱電阻是利用物質(zhì)在溫度變化時，其電阻也隨著發(fā)生變化的特征來測量溫度的。當阻值變化時，工作儀表便顯示出電阻所對應(yīng)的溫度值。 ...

摘要鎧裝薄膜鉑熱電阻，WZPK-276U， 直接精確測量各種生產(chǎn)過程中的-200～500℃范圍內(nèi)液體、蒸汽和氣體介質(zhì)以及固體表面溫度。工作原理:鎧裝熱電阻是利用物質(zhì)在溫度變化時，其電阻也隨著發(fā)生變化的特征來測量溫度的。當阻值變化時，工作儀表便顯示出電阻所對應(yīng)的溫度值。 ...

摘要鎧裝薄膜鉑熱電阻，WZPK-275U, 直接精確測量各種生產(chǎn)過程中的-200～500℃范圍內(nèi)液體、蒸汽和氣體介質(zhì)以及固體表面溫度。工作原理:鎧裝熱電阻是利用物質(zhì)在溫度變化時，其電阻也隨著發(fā)生變化的特征來測量溫度的。當阻值變化時，工作儀表便顯示出電阻所對應(yīng)的溫度值。 ...

摘要鎧裝薄膜鉑熱電阻，WZPK-274U, 直接精確測量各種生產(chǎn)過程中的-200～500℃范圍內(nèi)液體、蒸汽和氣體介質(zhì)以及固體表面溫度。工作原理:鎧裝熱電阻是利用物質(zhì)在溫度變化時，其電阻也隨著發(fā)生變化的特征來測量溫度的。當阻值變化時，工作儀表便顯示出電阻所對應(yīng)的溫度值。 ...

摘要鎧裝薄膜鉑熱電阻，WZPK-273U， 直接精確測量各種生產(chǎn)過程中的-200～500℃范圍內(nèi)液體、蒸汽和氣體介質(zhì)以及固體表面溫度。工作原理:鎧裝熱電阻是利用物質(zhì)在溫度變化時，其電阻也隨著發(fā)生變化的特征來測量溫度的。當阻值變化時，工作儀表便顯示出電阻所對應(yīng)的溫度值。 ...

摘要鎧裝薄膜鉑熱電阻，WZPK-176U， 直接精確測量各種生產(chǎn)過程中的-200～500℃范圍內(nèi)液體、蒸汽和氣體介質(zhì)以及固體表面溫度。工作原理:鎧裝熱電阻是利用物質(zhì)在溫度變化時，其電阻也隨著發(fā)生變化的特征來測量溫度的。當阻值變化時，工作儀表便顯示出電阻所對應(yīng)的溫度值。 ...

摘要鎧裝薄膜鉑熱電阻，WZPK-174U， 直接精確測量各種生產(chǎn)過程中的-200～500℃范圍內(nèi)液體、蒸汽和氣體介質(zhì)以及固體表面溫度。工作原理:鎧裝熱電阻是利用物質(zhì)在溫度變化時，其電阻也隨著發(fā)生變化的特征來測量溫度的。當阻值變化時，工作儀表便顯示出電阻所對應(yīng)的溫度值。 ...

摘要 鎧裝薄膜鉑熱電阻，WZPK-173U， 鎧裝熱電阻 應(yīng)用 通常和顯示儀表、記錄儀表、電子計算機等配套使用。直接精確測量各種生產(chǎn)過程中的-200～500℃范圍內(nèi)液體、蒸汽和氣體介質(zhì)以及固體表面溫度。

摘要 鎧裝薄膜鉑熱電阻，WZPK-565U, 熱電阻的工作原理：在溫度的作用下，電阻絲的電阻隨之變化而變化。可用于測量 -200℃～﹢800℃范圍內(nèi)的溫度。其優(yōu)點是：偏差極小。由于它的良好電輸出性能，熱電阻可為顯示儀、記錄儀、調(diào)節(jié)儀、掃描儀及電腦提供精確的輸入值。

摘要 鎧裝薄膜鉑熱電阻，WZPK-564U, 熱電阻的工作原理：在溫度的作用下，電阻絲的電阻隨之變化而變化。可用于測量 -200℃～﹢800℃范圍內(nèi)的溫度。其優(yōu)點是：偏差極小。由于它的良好電輸出性能，熱電阻可為顯示儀、記錄儀、調(diào)節(jié)儀、掃描儀及電腦提供精確的輸入值。

摘要 鎧裝薄膜鉑熱電阻，WZPK-563U， 熱電阻的工作原理：在溫度的作用下，電阻絲的電阻隨之變化而變化。可用于測量 -200℃～﹢800℃范圍內(nèi)的溫度。其優(yōu)點是：偏差極小。由于它的良好電輸出性能，熱電阻可為顯示儀、記錄儀、調(diào)節(jié)儀、掃描儀及電腦提供精確的輸入值。

摘要 鎧裝鉑熱波膜電阻，WZPK-466U, 熱電阻的工作原理：在溫度的作用下，電阻絲的電阻隨之變化而變化。可用于測量 -200℃～﹢800℃范圍內(nèi)的溫度。其優(yōu)點是：偏差極小。由于它的良好電輸出性能，熱電阻可為顯示儀、記錄儀、調(diào)節(jié)儀、掃描儀及電腦提供精確的輸入值。

摘要 鎧裝薄膜鉑熱電阻，WZPK-465U, 熱電阻的工作原理：在溫度的作用下，電阻絲的電阻隨之變化而變化。可用于測量 -200℃～﹢800℃范圍內(nèi)的溫度。其優(yōu)點是：偏差極小。由于它的良好電輸出性能，熱電阻可為顯示儀、記錄儀、調(diào)節(jié)儀、掃描儀及電腦提供精確的輸入值。

摘要 鎧裝薄膜鉑熱電阻，WZPK-464U, 熱電阻的工作原理：在溫度的作用下，電阻絲的電阻隨之變化而變化。可用于測量 -200℃～﹢800℃范圍內(nèi)的溫度。其優(yōu)點是：偏差極小。由于它的良好電輸出性能，熱電阻可為顯示儀、記錄儀、調(diào)節(jié)儀、掃描儀及電腦提供精確的輸入值。

摘要 鎧裝薄膜鉑熱電阻，WZPK-463U， 熱電阻的工作原理：在溫度的作用下，電阻絲的電阻隨之變化而變化。可用于測量 -200℃～﹢800℃范圍內(nèi)的溫度。其優(yōu)點是：偏差極小。由于它的良好電輸出性能，熱電阻可為顯示儀、記錄儀、調(diào)節(jié)儀、掃描儀及電腦提供精確的輸入值。

摘要 鎧裝薄膜鉑熱電阻，WZPK-366U, 熱電阻的工作原理：在溫度的作用下，電阻絲的電阻隨之變化而變化。可用于測量 -200℃～﹢800℃范圍內(nèi)的溫度。其優(yōu)點是：偏差極小。由于它的良好電輸出性能，熱電阻可為顯示儀、記錄儀、調(diào)節(jié)儀、掃描儀及電腦提供精確的輸入值

摘要 鎧裝薄膜鉑熱電阻，WZPK-365U, 熱電阻的工作原理：在溫度的作用下，電阻絲的電阻隨之變化而變化。可用于測量 -200℃～﹢800℃范圍內(nèi)的溫度。其優(yōu)點是：偏差極小。由于它的良好電輸出性能，熱電阻可為顯示儀、記錄儀、調(diào)節(jié)儀、掃描儀及電腦提供精確的輸入值

摘要 鎧裝薄膜鉑熱電阻，WZPK-364U, 熱電阻的工作原理：在溫度的作用下，電阻絲的電阻隨之變化而變化。可用于測量 -200℃～﹢800℃范圍內(nèi)的溫度。其優(yōu)點是：偏差極小。由于它的良好電輸出性能，熱電阻可為顯示儀、記錄儀、調(diào)節(jié)儀、掃描儀及電腦提供精確的輸入值

摘要 鎧裝薄膜鉑熱電阻，WZPK-363U, 熱電阻的工作原理：在溫度的作用下，電阻絲的電阻隨之變化而變化。可用于測量 -200℃～﹢800℃范圍內(nèi)的溫度。其優(yōu)點是：偏差極小。由于它的良好電輸出性能，熱電阻可為顯示儀、記錄儀、調(diào)節(jié)儀、掃描儀及電腦提供精確的輸入值

摘要 鎧裝薄膜鉑熱電阻,WZPK-266U, 熱電阻的工作原理：在溫度的作用下，電阻絲的電阻隨之變化而變化。可用于測量 -200℃～﹢800℃范圍內(nèi)的溫度。其優(yōu)點是：偏差極小。由于它的良好電輸出性能，熱電阻可為顯示儀、記錄儀、調(diào)節(jié)儀、掃描儀及電腦提供精確的輸入值

摘要 鎧裝薄膜鉑熱電阻，WZPK-265U， 熱電阻的工作原理：在溫度的作用下，電阻絲的電阻隨之變化而變化。可用于測量 -200℃～﹢800℃范圍內(nèi)的溫度。其優(yōu)點是：偏差極小。由于它的良好電輸出性能，熱電阻可為顯示儀、記錄儀、調(diào)節(jié)儀、掃描儀及電腦提供精確的輸入值

摘要 鎧裝薄膜鉑熱電阻，WZPK-264U, 熱電阻的工作原理：在溫度的作用下，電阻絲的電阻隨之變化而變化。可用于測量 -200℃～﹢800℃范圍內(nèi)的溫度。其優(yōu)點是：偏差極小。由于它的良好電輸出性能，熱電阻可為顯示儀、記錄儀、調(diào)節(jié)儀、掃描儀及電腦提供精確的輸入值

摘要 鎧裝薄膜鉑熱電阻，WZPK-263U, 熱電阻的工作原理：在溫度的作用下，電阻絲的電阻隨之變化而變化。可用于測量 -200℃～﹢800℃范圍內(nèi)的溫度。其優(yōu)點是：偏差極小。由于它的良好電輸出性能，熱電阻可為顯示儀、記錄儀、調(diào)節(jié)儀、掃描儀及電腦提供精確的輸入值

摘要 鎧裝薄膜鉑熱電阻,WZPK-166U, 熱電阻的工作原理：在溫度的作用下，電阻絲的電阻隨之變化而變化。可用于測量 -200℃～﹢800℃范圍內(nèi)的溫度。其優(yōu)點是：偏差極小。由于它的良好電輸出性能，熱電阻可為顯示儀、記錄儀、調(diào)節(jié)儀、掃描儀及電腦提供精確的輸入值

摘要 鎧裝薄膜鉑熱電阻，WZPK-165U, 熱電阻的工作原理：在溫度的作用下，電阻絲的電阻隨之變化而變化。可用于測量 -200℃～﹢800℃范圍內(nèi)的溫度。其優(yōu)點是：偏差極小。由于它的良好電輸出性能，熱電阻可為顯示儀、記錄儀、調(diào)節(jié)儀、掃描儀及電腦提供精確的輸入值

摘要 鎧裝薄膜鉑熱電阻，WZPK-164U, 熱電阻的工作原理：在溫度的作用下，電阻絲的電阻隨之變化而變化。可用于測量 -200℃～﹢800℃范圍內(nèi)的溫度。其優(yōu)點是：偏差極小。由于它的良好電輸出性能，熱電阻可為顯示儀、記錄儀、調(diào)節(jié)儀、掃描儀及電腦提供精確的輸入值

摘要 鎧裝薄膜鉑熱電阻，WZPK-163U, 熱電阻的工作原理：在溫度的作用下，電阻絲的電阻隨之變化而變化。可用于測量 -200℃～﹢800℃范圍內(nèi)的溫度。其優(yōu)點是：偏差極小。由于它的良好電輸出性能，熱電阻可為顯示儀、記錄儀、調(diào)節(jié)儀、掃描儀及電腦提供精確的輸入值

摘要 鎧裝薄膜鉑熱電阻，WZPK-526U, 熱電阻的工作原理：在溫度的作用下，電阻絲的電阻隨之變化而變化。可用于測量 -200℃～﹢800℃范圍內(nèi)的溫度。其優(yōu)點是：偏差極小。由于它的良好電輸出性能，熱電阻可為顯示儀、記錄儀、調(diào)節(jié)儀、掃描儀及電腦提供精確的輸入值

摘要 鎧裝薄膜鉑熱電阻，WZPK-525U, 熱電阻的工作原理：在溫度的作用下，電阻絲的電阻隨之變化而變化。可用于測量 -200℃～﹢800℃范圍內(nèi)的溫度。其優(yōu)點是：偏差極小。由于它的良好電輸出性能，熱電阻可為顯示儀、記錄儀、調(diào)節(jié)儀、掃描儀及電腦提供精確的輸入值。

摘要 鎧裝薄膜鉑熱電阻，WZPK-524U, 熱電阻的工作原理：在溫度的作用下，電阻絲的電阻隨之變化而變化。可用于測量 -200℃～﹢800℃范圍內(nèi)的溫度。其優(yōu)點是：偏差極小。由于它的良好電輸出性能，熱電阻可為顯示儀、記錄儀、調(diào)節(jié)儀、掃描儀及電腦提供精確的輸入值。

摘要 鎧裝薄膜鉑熱電阻，WZPK-523U, 熱電阻的工作原理：在溫度的作用下，電阻絲的電阻隨之變化而變化。可用于測量 -200℃～﹢800℃范圍內(nèi)的溫度。其優(yōu)點是：偏差極小。由于它的良好電輸出性能，熱電阻可為顯示儀、記錄儀、調(diào)節(jié)儀、掃描儀及電腦提供精確的輸入值。

摘要 鎧裝薄膜鉑熱電阻，WZPK-426U, 熱電阻的工作原理：在溫度的作用下，電阻絲的電阻隨之變化而變化。可用于測量 -200℃～﹢800℃范圍內(nèi)的溫度。其優(yōu)點是：偏差極小。由于它的良好電輸出性能，熱電阻可為顯示儀、記錄儀、調(diào)節(jié)儀、掃描儀及電腦提供精確的輸入值。

摘要 鎧裝薄膜鉑熱電阻，WZPK-425U, 熱電阻的工作原理：在溫度的作用下，電阻絲的電阻隨之變化而變化。可用于測量 -200℃～﹢800℃范圍內(nèi)的溫度。其優(yōu)點是：偏差極小。由于它的良好電輸出性能，熱電阻可為顯示儀、記錄儀、調(diào)節(jié)儀、掃描儀及電腦提供精確的輸入值。