臺階儀

摘要 產品描述：Dektak Pro是布魯克新發布的一款的探針式輪廓儀/臺階儀，基于第十一代Dektak®系統，具有4 ?重復性的優異表現，并提供200毫米平臺選項

摘要 P-7建立在市場的P-17臺式探針輪廓分析系統的成功基礎之上。 它保持了P-17技術的測量性能，并作為臺式探針輪廓儀平臺提供了的性價比。 P-7可以對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D和3D測量，其掃描可達150mm而無需圖像拼接。

摘要P-170是cassette-to-cassette探針式輪廓儀，將行業的P-17臺式系統的測量性能和經過生產驗證的HRP®-260的機械傳送臂相結合。 這樣的組合為機械傳送臂系統提供了極低的擁有成本，適用于半導體，化合物半導體和相關行業。 P-170可以對臺...

摘要P-17是第八代臺式探針輪廓儀，是40多年的表面量測經驗的結晶。該系統業界，支持對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D和3D測量，其掃描可達200mm而無需圖像拼接。該系統結合了UltraLite®傳感器、恒力控制和超平掃描平臺，因而具備出色的測量穩定性。 ...

摘要Alpha-Step D-600探針式輪廓儀支持臺階高度和粗糙度的2D及3D測量，以及翹曲度和應力的2D測量。 創新的光學杠桿傳感器技術提供高分辨率測量，大垂直范圍和低觸力測量功能。探針測量技術的一個優點是它是一種直接測量，與材料特性無關。 可調節的觸力以及探針的選擇...

摘要Alpha-Step D-500探針式輪廓儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力的2D測量。 創新的光學杠桿傳感器技術提供高分辨率測量，大垂直范圍和低觸力測量功能。探針測量技術的一個優點是它是一種直接測量，與材料特性無關。 可調節的觸力以及探針的選擇都使其可以對各種結構...

摘要 KLA D-300探針式輪廓儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力的2D 測量。 創新的光學杠桿傳感器技術提供高分辨率測量，大垂直范圍和低觸力測量功能。

摘要 產品介紹 Alpha-Step D-500 探針式輪廓儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力的2D 測量。 創新的光學杠桿傳感器技術提供高分辨率測量，大垂直范圍和低觸力測量功能。

摘要 產品介紹 KLA的探針式臺階儀Alpha-Step D-600，可測量納米級至1200um臺階高度，并可分析薄膜表面粗糙度、波紋度、應力。且其具有5.0A (1σ)或0.1%臺階高度重復性以及亞埃級的分辨率。

摘要 產品介紹 KLA是半導體在線檢測設備市場較大的供應商，在半導體、數據存儲、 MEMS 、太陽能、光電子 以及其他領域中有著不俗的。 P-7是KLA公司的第八代探針式臺階儀系統，歷經技術積累和不 斷迭代更新，集合眾多技術優勢。

摘要產品介紹 P-170是cassette-to-cassette探針式輪廓儀，將行業的P-17臺式系統的測量性能和經過生產驗證的HRP®-260的機械傳送臂相結合。 這樣的組合為機械傳送臂系統提供了低成本，適用于半導體，化合物半導體和相關行業。 P-170可以對...

摘要 產品介紹 P-17是第八代臺式探針輪廓儀。該系統業界，支持對臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D和3D測量，其掃描可達200mm而無需圖像拼接。

摘要 產品介紹 Alpha-Step D-300 探針式輪廓儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力的2D 測量。光學杠桿傳感 器技術提供高分辨率測量，大垂直范圍和低觸力測量功能。

摘要 日本KOSAKA臺階儀ET200用于測量半導體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫學器件、薄膜/化學涂層以及平板顯示等。

摘要 產品描述：DektakXT臺階儀（探針式表面輪廓儀）的技術突破，使納米尺度的表面輪廓測量成為可能。

摘要 適用于二次元表面納米等級段差臺階測定、粗糙度測定。

摘要布魯克 DektakXT 臺階儀（探針式表面輪廓儀）是一項創新性的設計，可以提供的重現性，重現性低于4?。臺階儀這項性能的提高達到了過去四十年Dektak 技術創新的，更加鞏固了其行業地位。通過整合其行業產品，DektakXT 實現了性能。操作簡易，從研發到質量控制都...

摘要 臺階儀D-300/500

摘要 D-600可以對幾納米到1200µm的2D和3D臺階高度、粗糙度、應力進行測量。

摘要 P-17支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力進行2D和3D測量，單次掃描高達200mm，無需圖像拼接測量。

摘要 Alpha-StepD-300探針式輪廓儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力的2D測量

摘要 品 牌：Bruker 產 地：德國 型 號：DEKTAK XT

摘要 日本KOSAKA ET200 臺階儀，日本KOSAKA ET200 臺階儀配備了各種型號探針，提供了通過過程控制接觸力和垂直范圍的探頭，彩色CCD原位采集設計，可直接觀察到探針工作時的狀態，更方便準確的定位測試區域。

摘要 超微力臺階儀/膜厚儀StylusSurfaceProfilometers簡介：超微力臺階儀/膜厚儀Alpha-StepIQ是探針接觸式表面輪廓儀(臺階儀.膜厚儀)

摘要 日本KOSAKAET200接觸式臺階儀日本KOSAKAET200接觸式臺階儀基于Windows操作系統為多種不同表面提供全面的形貌分析，包括半導體硅片、太陽能硅片、薄膜磁頭及磁盤、MEMS、光電子、精加工表面、生物醫學器件、薄膜/化學涂層、平板顯示、觸摸屏等

摘要 布魯克DektakXT臺階儀

摘要 產品描述P-170是cassette-to-cassette探針式輪廓儀，將行業的P-17臺式系統的測量性能和經過生產驗證的HRP®-260的機械傳送臂相結合

摘要 產品描述P-17臺式探針式輪廓儀是第八代臺式探針輪廓儀，是40多年的表面量測經驗的結晶

摘要 產品描述Alpha-StepD-600探針式輪廓儀支持臺階高度和粗糙度的2D及3D測量，以及翹曲度和應力的2D測量

摘要 產品描述P-7臺式探針式輪廓儀支持從幾納米到一毫米的臺階高度測量，適用于生產和研發環境

摘要 產品描述Alpha-StepD-500探針式輪廓儀支持臺階高度、粗糙度、翹曲度和應力的2D測量

摘要 產品描述HRP®-260是一款高分辨率cassette-to-cassette探針式輪廓儀

摘要 產品描述Zeta-388光學輪廓儀是一種非接觸式3D表面形貌測量系統

摘要 產品描述Zeta-300光學輪廓儀是一種非接觸式3D表面形貌測量系統

摘要 產品描述Zeta-20臺式光學輪廓儀的配置靈活并易于使用，并集合了六種不同的光學量測技術

摘要 1.北京智能型臺階儀測試在3分鐘的定量負荷后心率變化情況，評定學生心血管功能，反映心肺機能水平 2.支持從電腦上集中一次性下載學生信息數據到主機,無需人工錄入, 3.主機支持脫機測試和瀏覽/查詢,測完后可以將成績上傳到電腦上,然后

摘要 性能指標掃描時最小正壓力:0.03mg(軟件可編程選擇和自動控制,無需手動)

摘要 儀器名稱：臺階儀，膜厚儀，探針接觸式輪廓儀，3D輪廓儀型號美國KLA-TencorD-120檢測項目：1、薄膜、涂層厚度測量；2、表面粗糙度+三維形貌；3、表面粗糙度測量；4、三坐標測量+三維形貌測量；5、2D薄膜應力測量；6、2D彎曲度和形狀測量

摘要 簡要描述：桌面型探針式表面輪廓儀

摘要三維表面測量儀光學輪廓儀臺階儀Super Focus3000是一款用于對各種精密器件及材料表面進行亞納米級測量的檢測儀器。可廣泛應用于半導體制造及封裝工藝檢測、3C電子玻璃屏及其精密配件、光學加工、微納材料及制造、汽車零部件、MEMS器件等超精密加工行業及航空航天、國...

摘要 三維表面測量儀輪廓儀臺階儀（納米級）NanoFocus2000是用于表面結構測量和表面形貌分析的一款檢測設備,測量精度重復性達到世界較高水平;關鍵硬件采用美國、德國、日本等;配備進口第三方校準標準件 高性價比微觀形貌測量設備;迅捷、高效的上等售后服務

摘要 臺階儀膜厚儀探針接觸式輪廓儀美國KLA，垂直分辨率:0.38A，它廣泛應用于太陽能薄膜材料、半導體硅片、微電子器件、薄膜化學涂層、平板顯示器等研究領域。在新型薄膜材料的開發研究工作上極為重要。

摘要布魯克 DektakXT 臺階儀（探針式表面輪廓儀）設計創新，實現了更高的重復性和分辨率，垂直高度重復性高達 5。第十代 DektakXT臺階儀（探針式表面輪廓儀）的技術突破，實現了納米尺度的表面輪廓測量，從而可以廣泛的應用于微電子器件，半導體，電池，高亮度發光二極管...

摘要 一、儀器的功能及用途能夠在大氣環境下準確地測量樣品表面臺階變化；使用金剛石（鉆石）探針接觸直動式測量的方式來實現高精度表面形貌分析應用

摘要這款三維臺階儀是德國進口的高精度光學臺階儀器,也是一款光學表面臺階儀適合臺階高度測量,具有較低的進口臺階儀品牌臺階儀價格,適合對表面幾何形狀和表面紋理分析,以標準方案或定制性方案對二維形貌或三維形貌表面形貌和表面紋理,微米和納米形狀,圓盤,圓度,球度,臺階高度,距離,...