詳細摘要： Delta薄膜厚度測量系統利用薄膜干涉光學原理，對薄膜進行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線。Delta根據...
產品型號：Delta所在地：廣州市更新時間：2024-02-18 在線留言
廣州貝拓科學技術有限公司
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詳細摘要： Delta薄膜厚度測量系統利用薄膜干涉光學原理，對薄膜進行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線。Delta根據...
產品型號：Delta所在地：廣州市更新時間：2024-02-18 在線留言
詳細摘要： 薄膜厚度檢測儀利用薄膜干涉光學原理，對薄膜進行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線。Delta根據反射回來的干...
產品型號：Delta所在地：廣州市更新時間：2024-02-18 在線留言
詳細摘要： 薄膜厚度測定儀利用薄膜干涉光學原理，對薄膜進行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線。Delta根據反射回來的干...
產品型號：Delta所在地：廣州市更新時間：2024-02-18 在線留言
詳細摘要： 薄膜厚度儀利用薄膜干涉光學原理，對薄膜進行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收反射光線。Delta根據反射回來的干涉光...
產品型號：Delta所在地：廣州市更新時間：2024-02-18 在線留言
詳細摘要： 薄膜厚度測量儀DeltaDelta薄膜厚度測量系統利用薄膜干涉光學原理，對薄膜進行厚度測量及分析。用從深紫外到近紅外可選配的寬光譜光源照射薄膜表面，探頭同位接收...
產品型號：Delta所在地：廣州市更新時間：2024-02-18 在線留言
詳細摘要： 貝拓白光干涉薄膜厚度測量儀Delta根據反射回來的干涉光，用反復校準的算法快速反演計算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm，可同時完成多層膜厚的測試。對于100...
產品型號：Delta-NIR所在地：廣州市更新時間：2024-02-12 在線留言
詳細摘要： 薄膜測厚儀膜厚儀探頭同位接收反射光線。TF200根據反射回來的干涉光，用反復校準的算法快速反演計算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm，可同時完成多層膜厚的測試...
產品型號：所在地：廣州市更新時間：2023-12-29 在線留言
詳細摘要： TF200光學膜厚儀探頭同位接收反射光線。TF200根據反射回來的干涉光，用反復校準的算法快速反演計算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm，可同時完成多層膜厚的...
產品型號：所在地：廣州市更新時間：2023-08-01 在線留言
詳細摘要： 貝拓科學在線測厚儀TF200-VIS探頭同位接收反射光線。TF200根據反射回來的干涉光，用反復校準的算法快速反演計算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm，可同...
產品型號：所在地：廣州市更新時間：2023-08-01 在線留言
詳細摘要： TF200-DUV反射式膜厚測試儀探頭同位接收反射光線。TF200根據反射回來的干涉光，用反復校準的算法快速反演計算出薄膜的厚度。測量范圍1nm-3mm，可同時...
產品型號：所在地：廣州市更新時間：2023-08-01 在線留言您感興趣的產品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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