13819194783
當前位置：上海歐橋電子科技發展有限公司>>產品展示>>EMC測試器件>>干擾發射
Langer干擾發射探頭套組-IC測試系統P603-1/P750該探頭套組用于測量IC引腳的傳導發射（采用1歐姆/150歐姆直接耦合進行測量）。它基于IEC61...
德國Langer干擾發射探頭套組 IC測試系統P603/P750，使用探針組進行的測量***了重復測量時的高精度和測量的可比性。LangerEMVTechnik...
德國Langer干擾發射探頭套組（IC測試系統）S603/S750的測量確保了測量的高重復性和可比性。可以使用ChipScan-ESA軟件進行測量。利用該軟件保...
Langer干擾發射探頭套組（IC測試系統）P1601/P1702的測量確保了測量的高重復性和可比性。可以使用ChipScan-ESA軟件進行測量。利用該軟件保...
E1 set--Langer抗干擾開發系統E1套件簡介：E1抗干擾性開發系統是一套集成電路板開發過程中進行抗干擾分析的EMC工具系統。采用E1抗干擾開發系統，能...
Langer干擾發射探頭套組P1602/P1702介紹：P1602/P1702的測量確保了測量的高重復性和可比性。可以使用 ChipScan-ESA 軟件進行測...
Langer干擾發射探頭套組P1601/P1702介紹：P1601/P1702的測量確保了測量的高重復性和可比性。可以使用 ChipScan-ESA 軟件進行測...
Langer干擾發射探頭套組S603/S750介紹：S603/S750的測量確保了測量的高重復性和可比性。可以使用 ChipScan-ESA 軟件進行測量。利用...
Langer干擾發射探頭套組P603/P750介紹：使用探針組進行的測量保證了重復測量時的高精度和測量的可比性。Langer EMV Technik的ICE1 ...
請輸入賬號
請輸入密碼
請輸驗證碼
以上信息由企業自行提供，信息內容的真實性、準確性和合法性由相關企業負責，儀表網對此不承擔任何保證責任。
溫馨提示：為規避購買風險，建議您在購買產品前務必確認供應商資質及產品質量。
