Zeta電位儀

摘要 Zeta 電位及其測定分析儀采用的是電泳光散射原理：帶電顆粒在外加電場作用下進行運動，電荷運動使散射光產(chǎn)生頻率漂移（多普勒頻移）,采用頻譜漂移分析技術(shù),從而可計算出顆粒的電泳遷移率和Zeta電位。

摘要 納米粒度及zeta電位儀NANOTRAC WAVE II采用先進的“Y”型光纖探針光路設(shè)計，配置膜電極產(chǎn)生微電場，操作簡單，測量迅速，無需精確定位由于電泳和電滲等效應(yīng)導(dǎo)致的靜止層，無需外加大功率電場，無需更換分別用于測量粒度和Zeta電位的樣品池，*消除由于空間位阻

摘要 雙顯恒電位儀：DJS系列是電化學(xué)測試儀器，可廣泛應(yīng)用于電極過程動力學(xué)、化學(xué)電源、電鍍、金屬腐蝕、電化學(xué)分析及有機電化學(xué)合成等方面的研究

摘要 便攜式氧化還原電位儀 高精度氧化還原電位測試儀 型號:JC16-QX6530可測量pH值、溫度、毫伏值、氧化還原電位（ORP）。微電腦處理器，測量精度高、重復(fù)性好、自動溫度補償，操作簡單。配通用電極，滿足常規(guī)pH的測量。

摘要 Zeta電位分析儀FPA測量纖維及填料的表面電荷，通過測量化學(xué)品添加前后的樣品情況，能評估諸如淀粉或濕強劑對造紙工藝的影響。

摘要 雙顯恒電位儀：DJS系列是電化學(xué)測試儀器，可廣泛應(yīng)用于電極過程動力學(xué)、化學(xué)電源、電鍍、金屬腐蝕、電化學(xué)分析及有機電化學(xué)合成等方面的研究

摘要 雙顯恒電位儀：DJS系列是電化學(xué)測試儀器，可廣泛應(yīng)用于電極過程動力學(xué)、化學(xué)電源、電鍍、金屬腐蝕、電化學(xué)分析及有機電化學(xué)合成等方面的研究

摘要 雙顯恒電位儀：DJS系列是電化學(xué)測試儀器，可廣泛應(yīng)用于電極過程動力學(xué)、化學(xué)電源、電鍍、金屬腐蝕、電化學(xué)分析及有機電化學(xué)合成等方面的研究

摘要 zeta電位分析儀采用的是電泳光散射原理：帶電顆粒在外加電場作用下進行運動，電荷運動使散射光產(chǎn)生頻率漂移（多普勒頻移）,采用頻譜漂移分析技術(shù),從而可計算出顆粒的電泳遷移率和Zeta電位。

摘要 ZETA電位測量儀是簡單、方便而且準(zhǔn)確的電泳遷移率測量儀器，其*的開放式樣品槽設(shè)計與頻譜漂移分析技術(shù)相結(jié)合，使其具有*的分辨率，足以分辨等電點附近的多峰電泳分布情況。它的革新之處是從根本上消除了傳統(tǒng)Zeta電位測量儀器中固有的電滲誤差的影響，從而使測量變得準(zhǔn)確而方便。

摘要 DT 電聲電震法通用型Zeta電位分析儀 DT-330 能夠用于幾乎所有類型的多相異構(gòu)系統(tǒng),包括顆粒、沉積物和多孔材料

摘要 DT 電聲法Zeta電位分析儀 DT-300/DT-310 其開發(fā)可應(yīng)用于CMP漿料，納米分散體，陶瓷漿料，電池漿料，水泥家族，藥物乳劑等，并可應(yīng)用于多孔固體。

摘要 多功能智能納米激光粒度儀一：產(chǎn)品介紹：Nano9200系列多功能智能納米激光粒度儀用于測量顆粒粒度與Zeta電位

摘要 美國CD公司高濃度zeta電位分析儀

摘要 Zeta電位儀是一種用于測量溶液中顆粒或界面的Zeta電位的儀器。Zeta電位是表征帶電顆粒或界面表面電荷狀態(tài)的物理量，它影響著顆粒或界面的穩(wěn)定性、相互作用和分散性質(zhì)。

摘要 納米粒度及Zeta電位分析儀nanoPartica SZ-100V2

摘要納米粒度儀及zeta電位分析儀當(dāng)激光照射到分散于液體介質(zhì)中的微小顆粒時，由于顆粒的布朗運動引起散射光的頻率偏移，導(dǎo)致散射光信號隨時間發(fā)生動態(tài)變化，該變化的大小與顆粒的布朗運動速度有關(guān)，而顆粒的布朗運動速度又取決于顆粒粒徑的大小，顆粒大布朗運動速度低，反之顆粒小布朗運動...

摘要 型號 Horiba 納米粒度及Zeta電位分析儀nanoPartica SZ-100V2 簡介 SZ-100V2 只需單臺設(shè)備就能表征納米顆粒的三個參數(shù)：粒徑、Zeta 電位和分子量。

摘要 產(chǎn)品參數(shù)美國MAS超聲粒度儀，美國MAS（MassAppliedSciences）公司成立至今有30余年歷史，是一家專注于超聲電聲法原理粒度及Zeta電位分析儀的研發(fā)和生產(chǎn)型企業(yè)

摘要 產(chǎn)品參數(shù)1)采用專門的電動聲波振蕩技術(shù)，該儀器可完成非凡的電動測量結(jié)果，從而避免了傳統(tǒng)的微電泳技術(shù)的許多限制和局限

摘要 產(chǎn)品參數(shù)不稀釋：快速、簡易，極少或不需事前樣品準(zhǔn)備！堅固耐用，用途廣泛

摘要 產(chǎn)品參數(shù)不稀釋：快速、簡易，極少或不需事前樣品準(zhǔn)備！堅固耐用，用途廣泛

摘要 產(chǎn)品參數(shù)1）能分析多種分散物的混合體

摘要 產(chǎn)品參數(shù)Zeta電位胤煌科技，Zeta可以測試：粒徑、Zeta電位、滴定、電導(dǎo)等

摘要 產(chǎn)品參數(shù)美國MAS粒度和Zeta電位測定儀,Zeta可以測試：粒徑、Zeta電位、滴定、電導(dǎo)等

摘要 產(chǎn)品參數(shù)ZetaZeta電位分析儀，Zeta可以測試：粒徑、Zeta電位、滴定、電導(dǎo)等

摘要 產(chǎn)品參數(shù)超聲法原理粒度電聲法Zeta電位分析儀，樣品的高濃度可達60%（體積比），被測樣品無需稀釋，對濃縮膠體和乳膠皆可直接測量

摘要 產(chǎn)品參數(shù)原液電聲法zeta電位分析儀可同時測量Zeta電位、PH、電導(dǎo)、溫度等指標(biāo)

摘要 產(chǎn)品參數(shù)美國MAS高分辨納米粒度Zeta電位分析儀精確非均勻樣品分析—包括納米顆粒—歸功于其與顆粒密度無關(guān)的分析

摘要 產(chǎn)品參數(shù)AREPA原液在線納米粒度儀在線粒度測量

摘要 產(chǎn)品參數(shù)ZetaAcousticZA500高濃度Zeta電位分析儀美國MAS公司成立至今有30余年歷史，專注于超聲電聲法原理顆粒度檢測、Zeta電位分析儀的研發(fā)生產(chǎn)

摘要 產(chǎn)品參數(shù)美國MASZetaAcousticZA500電位分析，應(yīng)用科學(xué)公司發(fā)明電動聲波振幅（ESA）技術(shù)用于高百分比之固體Zeta表面測量

摘要 產(chǎn)品參數(shù)ZetaAcousticZA500電位分析儀ZA500，ZetaAcoustic，結(jié)合Zeta電位分析儀、聲波、電聲測量三合一很強，高的分辨率，免稀釋Zeta電位分析

摘要 產(chǎn)品參數(shù)粒度電聲法Zeta電位分析儀，Zeta電位測試采用多頻電聲測量技術(shù)，無需先測量粒度即可進行電位測量

摘要 產(chǎn)品參數(shù)ZetaFinderZF400高濃度Zeta電位分析儀采用專門的電動聲波振蕩技術(shù)，該儀器可完成非凡的電動測量結(jié)果，從而避免了傳統(tǒng)的微電泳技術(shù)的許多限制和局限，該儀器可同時測量Zeta電位、PH、電導(dǎo)、溫度等指標(biāo)

摘要 產(chǎn)品參數(shù)超聲電聲法Zeta電位分析儀該儀器可同時測量Zeta電位、PH、電導(dǎo)、溫度等指標(biāo)

摘要 產(chǎn)品參數(shù)美國MAS電聲法粒度Zeta電位分析儀原液測試該儀器可同時測量Zeta電位、PH、電導(dǎo)、溫度等指標(biāo)

摘要 產(chǎn)品參數(shù)超聲電聲法及Zeta電位分析儀采用專門的電動聲波振蕩技術(shù)，該儀器可完成非凡的電動測量結(jié)果，從而避免了傳統(tǒng)的微電泳技術(shù)的許多限制和局限，該儀器可同時測量Zeta電位、PH、電導(dǎo)、溫度等指標(biāo)

摘要 產(chǎn)品參數(shù)APS100納米粒度儀美國MAS公司成立至今有30余年歷史，專注于超聲電聲法原理顆粒度檢測、Zeta電位分析儀的研發(fā)生產(chǎn)

摘要 Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀結(jié)合了背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動態(tài)光散射技術(shù)以及硬件PALS（PhaseAnalysisScattering

摘要簡要描述：Nicomp Z3000激光粒度儀及ZETA電位分析儀是在原有的經(jīng)典型號380DLS基礎(chǔ)上升級配套而來，采用雪崩二極管（APD）檢測器和大功率激光器，大功率激光器可以增加光強度，APD檢測器更是增加了對微小粒子所發(fā)出信號的探測能力。利用動態(tài)光散射理論，粒徑檢...

摘要簡要描述：Nicomp Zeta電位分析儀是在原有的經(jīng)典型號380DLS基礎(chǔ)上升級配套而來，采用動態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理檢測分析顆粒的粒度分布，粒徑檢測范圍 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析軟件復(fù)合采用了高斯...

摘要簡要描述：Nicomp Z3000 納米zeta電位分析儀是在原有的經(jīng)典型號380DLS基礎(chǔ)上升級配套而來，采用動態(tài)光散射（Dynamic Light Scattering, DLS）原理檢測分析顆粒的粒度分布，粒徑檢測范圍 0.3nm – 10μm。其配套粒度分析軟...

摘要 納米粒度及Zeta電位分析儀

摘要 全自動Zeta電位分析儀